Department of Physics, Kyungpook National University 경북대학교 물리학과
물질 내부에서 일어나는 변화를 관측, 연구하기 위해서는 파장이 짧은 X-선과 검출기가 반드시 필요하다. 방사광 가속기는 X-선을 발생시키는 장치로써, 크게 원형 방사광 가속기와 선형 방사광 가속기로 나눌 수 있다. 신호를 측정하는 검출기는 매질에 따라 매우 다양한 종류가 있다. 본 발표에서는 방사광 가속기와 다양한 검출기 중 실리콘 검출기에 대해 소개하고자 한다.